Endli loetud artiklid: Difference between revisions
(→Small-angle X-ray scattering studies of Nafion®/[silicon oxide] and Nafion®/ORMOSIL nanocomposites) |
|||
| (11 intermediate revisions by the same user not shown) | |||
| Line 24: | Line 24: | ||
= Material properties of the cross-linked epoxy resin compound predicted by molecular dynamics simulation = | = Material properties of the cross-linked epoxy resin compound predicted by molecular dynamics simulation = | ||
Hai Bo Fan | Hai Bo Fan, Matthew M.F. Yuen | ||
doi | [[http://dx.doi.org/10.1016/j.polymer.2007.02.007]] | ||
MD simulatsioone tehti Accelrys Materials Studio programmiga, kasutades polymer consistent force field (PCFF) jõuvälja. | MD simulatsioone tehti Accelrys Materials Studio programmiga, kasutades polymer consistent force field (PCFF) jõuvälja. | ||
| Line 42: | Line 42: | ||
MD-simulatsioonist arvutati Lame koefitsentide kaudu Youngi elastsusmoodul. Youngi moodulit ja soojuspaisumistegurit võrreldi kirjandusega. | MD-simulatsioonist arvutati Lame koefitsentide kaudu Youngi elastsusmoodul. Youngi moodulit ja soojuspaisumistegurit võrreldi kirjandusega. | ||
= Small-angle X-ray scattering studies of Nafion®/[silicon oxide] and Nafion®/ORMOSIL nanocomposites = | |||
Q. DENC, K. M. CABLE, R. 6. MOORE, and K. A. MAURITZ | |||
[[http://dx.doi.org/10.1002/(SICI)1099-0488(199608)34:11%3C1917::AID-POLB9%3E3.0.CO;2-O]] | |||
Lähtematerjal: Nafion 115 membraan paksusega 5 mil, erikaaluga 1100. Algselt K+-ioonidega. | |||
Uurimisobjekt: | |||
Nafionisse tekitati sool-geel meetodil kvartsi nanoosakesed. | |||
Kasutatud analüüsimeetodid: | |||
* Small Angle X-Ray Scattering (SAXS): Graafiku küür q=2.0 nm^-1 juures (nn. ionomeeri piik) näitab kvaasikorrastatud kõrvalahelate klustreid perfluorosüsinikmaatriksis üksteisest 50Å kaugusel. See piik on olemas töötlemata Nafionis ja mõnedes kvartsiosakestega Nafioni variantides, kahes kvarstsiosakestega variandis aga puudub. Nendes, kus see piik on olemas, ei mõjuta kvartslisand üldse klustritevahelist kaugust. Piigi kadumist selgitatakse kvartsiosakeste kareda, fraktaalse pinnaga, kusjuures oletatakse, et klustrid ise jäävad alles, ainult difraktsioonipiik kaob. | |||
* Valgusmikroskoobiga kontrolliti, et membraani pinnale kvartsikristalle ei tekkinud, järelikult kogu kvarts on membraani sees. | |||
{{doi-inline|doi-väärtus|Artikli pealkiri}} | |||
= Molecular dynamics simulation study of a hydronium ion in liquid water with implementation of the proton transfer by means of a hopping mechanism = | |||
Roger G. Schmidt, Jiirgen Brickmann | |||
[[http://dx.doi.org/10.1016/0167-2738(94)00227-J]] | |||
Latest revision as of 12:38, 22 February 2008
Development of ionomer membranes for fuel cells
Jochen A. Kerres [[1]]
Molekuli täielik kuju hästi lühidalt kirja pandud: Perfluorinated ionomers consist of a perfluoroalkyl side chain and a perfluoro alkyl ether side chain with a sulfonic acid group at its end. [viidatud edasi]
Gore-Select membraan laseb tänu oma väiksemale paksusele (5 mikromeetrit) 10 korda rohkem prootoneid läbi kui Nafionist membraan. [viidatud edasi]
Sellised lisandid nagu phosphotungstic acid, phosphomolybdenic acid ja phosphotin acid suurendavad oluliselt membraani ioonjuhtivust [viidatud edasi]
Pikk nimekiri erinevatest fluoreeritud ja fluoreerimata membraanimaterjalidest.
Crosslinkidega membraanid (saadakse happe- ja aluserühmade tekitamisel polümeeri külge nii, et need eri ahelate vahel ühinevad) on sitkemad kui ilma crosslinkideta.
Kirjeldus PSU-membraani valmistamise kohta.
Crosslinkide tekkimist kontrolliti FTIR spektromeetriga 960-980 cm^-1 vahemikus oleva S=O sideme pikivõnkumise joone järgi. Crosslinkide teke vähendas selle joone ümbruses neeldumise nulli, millest järeldatakse, et vabu sulfinaatgruppe järele ei jäänud, kõik muutusid crosslinkideks.
Prooton-eritakistus 10-1000 ohm*cm, sõltuvalt materjalist ja happe kontsentratsioonist.
Kütuselemendis: Nafioni polarisatsioonikõvera keskkoht on 700mV, 400mA/cm^2.
Material properties of the cross-linked epoxy resin compound predicted by molecular dynamics simulation
Hai Bo Fan, Matthew M.F. Yuen
[[2]]
MD simulatsioone tehti Accelrys Materials Studio programmiga, kasutades polymer consistent force field (PCFF) jõuvälja.
Tehti kolm erineva aatomite arvuga NPT-simulatsiooni kahel eri temperatuuril, kõik sama esialgse tihedusega, ja võrreldi simulatsioonijärgseid ruumalasid, et selgitada, kas kasti suurus mõjutab simulatsiooni.
Simulatsiooniaja piisavust hinnati selle järgi, et simulatsioonitulemused koondusid.
Süsteemi jahutamist simuleeriti sammukaupa kiirusega 10deg/200ps. Simulatsioonisamm 1fs.
Kuna temperatuuri vähendati lineaarselt, siis ka kasti suurus vähenes pidevalt. Aeg-ruumala punktihulgast pandi kaks sirget läbi ja saadi temperatuur-tihedus seos. Sirgete lõikepunkt annab polümeeri klaasistumistemperatuuri.
Klaasistumistemperatuuri väärtus sõltub etteantud jahutamise kiirusest. Jahtumiskiirus valitigi selle järgi, et saadav klaasistumistemperatuur vastaks eksperimenditulemustele.
MD-simulatsioonist arvutati Lame koefitsentide kaudu Youngi elastsusmoodul. Youngi moodulit ja soojuspaisumistegurit võrreldi kirjandusega.
Small-angle X-ray scattering studies of Nafion®/[silicon oxide] and Nafion®/ORMOSIL nanocomposites
Q. DENC, K. M. CABLE, R. 6. MOORE, and K. A. MAURITZ
[[3]]
Lähtematerjal: Nafion 115 membraan paksusega 5 mil, erikaaluga 1100. Algselt K+-ioonidega.
Uurimisobjekt: Nafionisse tekitati sool-geel meetodil kvartsi nanoosakesed.
Kasutatud analüüsimeetodid:
- Small Angle X-Ray Scattering (SAXS): Graafiku küür q=2.0 nm^-1 juures (nn. ionomeeri piik) näitab kvaasikorrastatud kõrvalahelate klustreid perfluorosüsinikmaatriksis üksteisest 50Å kaugusel. See piik on olemas töötlemata Nafionis ja mõnedes kvartsiosakestega Nafioni variantides, kahes kvarstsiosakestega variandis aga puudub. Nendes, kus see piik on olemas, ei mõjuta kvartslisand üldse klustritevahelist kaugust. Piigi kadumist selgitatakse kvartsiosakeste kareda, fraktaalse pinnaga, kusjuures oletatakse, et klustrid ise jäävad alles, ainult difraktsioonipiik kaob.
- Valgusmikroskoobiga kontrolliti, et membraani pinnale kvartsikristalle ei tekkinud, järelikult kogu kvarts on membraani sees.
Molecular dynamics simulation study of a hydronium ion in liquid water with implementation of the proton transfer by means of a hopping mechanism
Roger G. Schmidt, Jiirgen Brickmann
[[4]]